Рентгенофлуоресцентный спектрометр для микроанализа M1 MISTRAL

M1 MISTRAL 

Компактный многоцелевой настольный микро-XRF-спектрометр

M1 MISTRAL - это компактный настольный энергодисперсионный анализатор микро-XRF для многоцелевого использования производства компании Bruker. M1 MISTRAL прост в эксплуатации и разработан для быстрой и экономичной работы в промышленных условиях. Он предоставляет точную информацию об элементном составе и толщине слоя материалов, таких как сплавы драгоценных металлов, а также многослойных структур.

Объем и покрытия анализируются в соответствии со стандартом ASTM B568 и европейским стандартом ISO 3497. Высокая точность может быть достигнута при анализе покрытий, нанесенных методом химического осаждения из фосфата никеля (NiP) с возбуждением через мишень из Rh. 

Точный состав всех ювелирных сплавов, металлов платиновой группы или серебра можно определить за доли минуты. Результаты могут быть представлены в процентах по весу или в каратах.  Анализ может выполняться без стандартов или на основе стандартов, чтобы достичь еще более высокого уровня точности. Для каждого приложения доступно большое количество калибровок.

От размещения образца до печати результатов в отчете - весь рабочий процесс интегрирован в программное обеспечение. При этом гарантируется полная прозрачность при открытом доступе к необработанным данным.

• неразрушающим методом можно измерить широкий спектр элементов. Пробоподготовка не требуется. Даже сложные аналитические задачи можно автоматизировать с помощью программируемого этапа XYZ и запускать одним щелчком мыши. Сверхбыстрые системы обнаружения обеспечивают быстрые результаты. 
• M1 MISTRAL поставляется с кремниевым дрейфовым детектором (SDD) большой площади с превосходной скоростью счета и разрешением по энергии, что позволяет снизить пределы обнаружения до уровня ppm. Высокопроизводительный детектор, цифровая обработка импульсов и оптимизированные геометрические условия обеспечивают высокоэффективное обнаружение рентгеновских лучей и, следовательно, быстрые и точные результаты анализа.
• простая в использовании и не требующая обслуживания конструкция M1 MISTRAL и мощный пакет аналитического программного обеспечения позволяют работать даже персоналу, прошедшему лишь краткое обучение. Никаких расходных материалов или газов не требуется. Прочная конструкция обеспечивает высочайшую стабильность и не требует обслуживания.
• широкий диапазон измерения толщины покрытия;
• прецизионный метод микро РФА обеспечивает низкую погрешность измерения;
• гибкие конфигурации, позволяющие подобрать оптимальное решение под требуемую задачу;
• измерение габаритных образцов размером до 200×175×80 мм;
• автоматическое измерение по поверхности образца в различных точках, измерение неровных поверхностей;
• контроль качества гальванических покрытий.

• Инструментальный контроль, сбор данных и управление
• Выбираемый пользователем интерфейс сенсорного экрана 
• Управление сценой и программирование 
• Анализ металлических многослойных материалов по толщине и составу слоев
• Количественный анализ состава, безстандартные и основанные на стандартах эмпирические модели
• Программа просмотра спектра с автоматической идентификацией пиков
• Линия тенденций и данные статистического управления технологическим процессом (SPC)
• Генератор отчетов
• Архив результатов